2019年IPC APEX展会最佳技术论文评选结果揭晓

2018年12月18日2019年IPC APEX展会的最佳技术论文,经由IPC APEX展会技术项目委员会投票选出。论文作者表彰会将于2019年1月29日的开题演讲会议上举行。

诺基亚公司的Chen Xu和伦敦帝国学院的Jason Stafford合著的《优化冷却气体模式减少电子设备上的粉尘沉积》荣获最佳论文榜首,论文演讲将于1月31日在表面处理可靠性/镀金修复/裂隙腐蚀专题技术会议第36会场举行。

荣获今年最佳论文奖的第二篇论文是《枕头缺陷检测—X-ray检测的局限性》,作者是Ericsson AB公司的Lars Bruno和Benny Gustafson。此论文演讲将于1月29日组装/检测—BTC/BGA专题技术会议第3会场举行。

另一篇获此殊荣的论文是《印制电路板的氧化残留物分析》,由The Charles Stark Draper Laboratory公司的Wade Glodman、Andrew Dineen、Hailey Jordan、Curtis Leonard以及雷神公司太空系统部门的Edward Arthur合著而成。此论文内容将于1月30日失效分析专题技术会议第25会场发布。

最佳论文的评选依据技术内容、原创性、实验方法及支持结论的数据,图片质量,撰写的专业度和简洁度等因素综合得出。

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